电子显微镜家族的“三大主力”

电子显微镜并非单一类型，主要分为透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）和扫描透射电子显微镜（STEM）三类。TEM需将样品制成超薄切片，电子束穿透样品成像，适合观测内部结构；SEM通过电子束扫描样品表面，侧重呈现表面形貌，成像具有立体感；STEM结合两者优势，既能观测内部结构，又能精准分析元素分布，广泛应用于纳米材料研究。不同类型各司其职，适配不同研究需求。